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広報誌 SEI WORLD 2014年

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SEI WORLD 2014年 04月号(vol. 439)

「SPIE DSS」に出展

赤外イメージセンサ

  米国・メリーランド州ボルチモアで、国際光工学会(SPIE)が主催する世界最大規模の画像セキュリティー関連機器の展示会「SPIE DSS」が開催されます。当社は、赤外イメージセンサ、赤外半導体レーザなどを出展します。

会  期 5月6日(火)~8日(木)
会  場 ボルチモアコンベンションセンター(米国)
ブース番号 206
出展製品 赤外イメージセンサ、赤外半導体レーザなど
公式サイト http://spie.org/x6776.xml
 

新規事業マーケティング部、伝送デバイス研究所

 
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